X线物镜可同时改善光学屏障提高图像平坦度色差校正和数值孔径

奥林巴斯新的X Line™系列物镜以及用于超分辨率和TIRF显微镜的UPLAPO-HR物镜采用新的制造技术设计，制造出难以使用其他方法制造的形状的镜片，打破光学屏障，提供出色的图像质量。

难以改善物镜的一个区域，例如数值孔径，而不需要在另一区域中进行折衷，如色差校正。然而，X Line目标通过同时改善三个关键领域的光学性能来克服共同的权衡：

平坦度

从中心到边缘的均匀图像的得到，观察面积比传统物镜大1.7倍

出色的色彩准确度

在明场和多色荧光成像期间具有，具有从紫色到近红外(400-1000 nm)的色差

卓越的图像质量

，即使在激发光较弱的情况下，具有更高的数值孔径(高达1.45)，可在延时实验中减少荧光褪色和光毒性

随着这些进步，用户可以在整个视野范围内获得明亮，高质量的图像，有助于改善定量数据采集和创建大型拼接图像的速度。对于经常使用染色样本的病理学家来说，准确的色彩再现可提高图像可靠性。

使用与X Line系列相同的技术，UPLAPO-HR超分辨率和TIRF物镜是世界上第一个实现数值孔径为1.5的复数目标，可实现对弱激发光的明亮，高分辨率观测。在超分辨率成像期间，这些目标使用户能够使用更宽的视野定位感兴趣的对象，然后平滑地分解到更高的放大率。

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